熱處理爐水分測定的原因
熱處理是用來改變材料的物理，有時(shí)是化學(xué)性質(zhì)。在這一過程中，雜質(zhì)/污染物（如水分）的存在通常會(huì)產(chǎn)生不期望的結(jié)果。
爐氣含水量測量面臨的挑戰(zhàn)
1）在熱處理之前，通常用含有氯化物的物質(zhì)清洗部件，當(dāng)然，清洗劑的殘留物留在部件上。當(dāng)這些殘留物被加熱時(shí)，它們會(huì)產(chǎn)生對(duì)大多數(shù)水分測量傳感器有害的Cl、HCl和Cl2自由基。SHAW露點(diǎn)儀傳感器經(jīng)過設(shè)計(jì)和時(shí)間測試，能夠在這些惡劣的環(huán)境中工作。
2）熱處理是在高于任何濕度傳感器工作溫度的溫度下進(jìn)行的，因此取樣氣體在測量前必須冷卻。SHAW露點(diǎn)儀提供專門為此目的設(shè)計(jì)的熱交換器。
3）爐內(nèi)氣體壓力可能不足以使氣體流入外部分析儀，特別是在有熱交換器的情況下。SHAW露點(diǎn)儀有一個(gè)可選的真空泵，內(nèi)置可充電電池。熱處理爐加熱爐粉末冶金爐內(nèi)水分露點(diǎn)測量請直接選擇英國肖氏露點(diǎn)儀
測量爐氣含水量的Zui佳選擇
基于SHAW露點(diǎn)儀納米技術(shù)的濕度傳感器與獨(dú)特的SHAW露點(diǎn)儀儀器設(shè)計(jì)相結(jié)合，為熱處理應(yīng)用中的濕度測量提供了一種急需的解決方案。
納米技術(shù)傳感器：SHAW露點(diǎn)儀使用專有的基于納米技術(shù)的金屬氧化物傳感器。納米孔結(jié)構(gòu)允許對(duì)潤濕和干燥的快速反應(yīng)，高精度和再現(xiàn)性。納米科學(xué)的本質(zhì)使我們能夠改變材料的臨界特性，從而為其應(yīng)用增加新的維度。因此，我們的技術(shù)允許在-100°C露點(diǎn)到+0°C露點(diǎn)范圍內(nèi)進(jìn)行準(zhǔn)確、可重復(fù)和快速的測量。
便攜式爐氣水分分析儀
便攜式水分分析儀，如手持型SDH-mini露點(diǎn)儀或SADP露點(diǎn)儀，可用于抽查測量值，并確定在線分析儀測量值是否與便攜式分析儀一致，可定期發(fā)送至實(shí)驗(yàn)室，與NIST可追蹤的冷鏡標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較。便攜式分析儀將其傳感器暴露在測量的爐氣中很短的時(shí)間（幾分鐘），因此污染*小，此外，傳感器存儲(chǔ)在干燥劑室中，干燥劑吸收傳感器表面積累的任何污染物。熱處理爐加熱爐粉末冶金爐內(nèi)水分露點(diǎn)測量請直接選擇英國肖氏露點(diǎn)儀
SHAW露點(diǎn)儀的優(yōu)勢
SHAW露點(diǎn)儀產(chǎn)品線非常適合爐氣中的水分測量需求，在線（Superdew3）和手持（SDH-mini）提供：
寬測量范圍內(nèi)的高精度-100°C至+0°C露點(diǎn)
●響應(yīng)速度熱處理爐加熱爐粉末冶金爐內(nèi)水分露點(diǎn)測量請直接選擇英國肖氏露點(diǎn)儀
●消除不愉快的耗時(shí)清潔程序
●節(jié)省寶貴的維修技師時(shí)間
●擁有成本低
●極易操作，具有直觀的圖形用戶界面
抗現(xiàn)場測量中常見的污染物，如Cl、HCl和Cl2
●卓越的可靠性
危險(xiǎn)區(qū)域使用批準(zhǔn)
●便攜式分析儀可用于抽檢
●由SHAW工程師提供專家支持。
●為技術(shù)人員提供培訓(xùn)軟件，方便他們練習(xí)使用分析儀。
更多熱處理爐加熱爐粉末冶金爐內(nèi)水分露點(diǎn)測量請直接選擇英國肖氏露點(diǎn)儀信息請致電英肖儀器中國021-66015906